STS8200测试机的编程手册

STS8200测试机编程手册是一份专门针对Accotest公司的STS8200型号测试机的程序开发指南，它提供了详细的编程接口和函数定义，对于测试工程师来说，这份手册是编写和调试测试程序的宝贵资料。 手册中提到的系统函数部分，首先介绍了测试程序框架函数，这些函数是整个测试流程中不可或缺的。比如，HardWareCfg()函数用于硬件配置；InitBeforeTestFlow()和InitAfterTestFlow()分别用于测试流程前后初始化；UserInit()、UserLoad()、UserExit()分别用于用户初始化、加载用户自定义数据和用户退出操作；OnSot()用于晶圆开始测试；SetupFailSite()用于设置故障点；BinOutDut()用于不合格品剔除；OnNewLot()和OnWaferEnd()分别用于新批次开始和晶圆结束的处理。 在全局函数部分，手册详细介绍了测试机的全局函数，它们在测试程序的不同位置被调用。如BEGIN_SINGLE_SITE()和END_SINGLE_SITE()标记一个单一晶圆测试的开始和结束；delay_ms()和delay_us()函数用于延迟操作；STSTestifyHDExist()和STSEnableCfgCheck()函数用于提供特定的配置检查功能。手册还区分了全局函数的旧版和新版，以及并发函数，这些都是编程时需要特别注意的部分。 测试参数相关函数为编程提供了设置和获取测试结果以及相关参数的接口。SetTestResult()和GetTestResult()分别用于设置和获取测试结果；SetResultRemark()和GetResultRemark()用于设置和获取结果备注；GetMinLimit()和GetMaxLimit()用于获取最小和最大限制值；GetSubUnitsCount()和GetDispFormat()用于获取子单位计数和显示格式；GetDescription()和GetConditionsCnt()用于获取测试描述和条件数量；GetConditionDispName()至GetConditionDispTip()则提供了更多关于测试条件的显示和选择方面的细节。 特殊应用函数部分包括了特定功能的实现，例如StsGetSingleDieCorXY()和StsSetDieCorXY()分别用于获取和设置芯片坐标；GetNewLotInfoCnt()和GetNewLotItemInfo()用于获取新批次信息；STSSetInitSelectDialog()用于设置初始化选择对话框；StsSetSaveFileNameStr()和STSEnableDebugTool()用于设置保存文件名和调试工具。 应用举例部分，手册通过具体的应用案例，展示了如何在程序中定义QA起始函数、设置DIE坐标、获取Lot信息、控制测试失败停止、控制单个测试数据不保存以及设置对话框和储存文件名。这些案例有助于工程师理解如何在实际工作中应用编程手册中提供的函数和接口。 在手册的后半部分，分别介绍了DVI400、PVI10A和OVI40等系列测试函数的用法，这些函数涉及到电压电流的测量和结果获取，以及上升时间的设置。 手册还包含了CBIT128测试函数的说明，CBIT128()为测试程序的主要入口函数，其下包括Init()初始化函数、SetOn()和SetCBITOn()状态设置函数等，这些都是进行CBIT测试的关键步骤。 通过阅读这份手册，测试工程师能够理解如何编写和修改STS8200测试机的程序，实现对半导体器件或集成电路的自动化测试。掌握这些知识点对于编写高效、准确的测试程序至关重要，对于提高生产效率和保证产品质量有着直接的积极影响。