TMAX是Synopsys公司提供的一个高级自动测试图形生成(ATPG)解决方案，主要用于半导体和集成电路测试。在芯片设计的制造和测试过程中，ATPG用于生成用于测试芯片功能和性能的测试图形。在实际应用中，工程师们可能会遇到ATPG生成的测试图形无法通过仿真验证或者在硬件测试中失败的情况，这时候就需要进行调试。本文档提供了关于在使用TMAX进行仿真调试和ATPG图形验证时的一系列技巧和建议。
1. 遇到ATPG图形无法通过测试的情况是常见的。这些问题可能源于ATPG和仿真中使用的模型不一致，或者是在ATPG中未被检测到的时序相关问题。为了找到原因，可以从审查TetraMAX ATPG的日志开始，检查运行构建步骤的警告信息、DRCS和C类型警告（如S18、S29、S22、C12、C39等），以及ATPG横幅警告信息。此外，还应检查写入图形步骤中是否有关于M类型的警告信息。
2. 确定问题是否与时序相关。工程师可以使用VCS开关进行调试，了解每个开关的作用，并合理使用它们进行图形验证。例如，可以尝试使用“+delay_mode_zero”和“+tetramax”来消除时序问题。此外，需要花费时间理解库中不同的时序模式定义以及它们在ATPG图形中应当如何使用。还可以使用标准延迟格式（SDF）文件来调查任何注释警告或错误，并尝试所有时序角点来缩小问题范围。
3. 分析链测试图案是否失败。这是个重要问题，需要确认链路的完整性是否受损。例如，能否安全地移入一串1和0的序列，然后再以预期方式移出。如果链测试失败，可能是由于扫描路径上的保持时间问题。通过运行具有最短长度链的模式，可以加快调试过程。使用“set_atpg –chain_test10C(or1000)”调整链测试图案，以便通过链路移入一串以1开头，后接若干个0的序列，这样便于调试。
4. 调查扫描单元。使用“report_scan_cell-all-verbose”命令可以打印出扫描链中各个扫描单元的详细信息，例如扫描单元类型、边沿、反相门数、时钟数量以及实例名称。这有助于工程师详细了解扫描单元的结构和配置。
总结而言，TMAX提供的仿真调试和ATPG图形验证不仅需要对工具的深入了解，还需要对芯片设计和测试流程有全面的认识。工程师在使用TMAX时遇到的问题，可以通过细致的审查日志、时序分析、链测试以及扫描单元的状态报告等手段来定位和解决问题。在进行调试的过程中，需要耐心和细致，不断调整测试策略，并结合仿真和硬件测试的结果，才能有效地解决ATPG图形中的问题。
