半导体测试各种项目简介

目录：www.2ic.cn#O/t'N:I6X 1， 测量可重复性和可复制性(GR&R) 2， 电气测试可信度（Electrical Test Confidence） 3， 电气测试的限值空间（Guardband）:r1S/K4S%A7D)~!r 4， 电气测试参数 CPK半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA,photo,etch,implant,diffustion,lithography,fab,fabless9a!o3u%A/Z6]5o4C 5， 电气测试良品率模型（test yield) 6， 晶圆测试和老化(Waferlevel Test and burn-in) 7， Boundary-Scan 测试 / JTAG 标准www.2ic.cn!^8P$z.?7{#I8v$}+j9j 8， 自我测试电路（Built-in Self Test)半导体技术天地5w+J1?0n6|%^#x 9， 自动测试图形向量生成（ATPG）