GMW3122 2020
Dual Wire Controller Area Network Physical Layer and Date Link Layer Specification
Dual Wire Controller Area Network Physical Layer and Date Link Layer Specification
本书全面讨论了系统的各个主要部分,从输入放大器到数字输出。本书详细考察了信号链中的每个元件,包括信号调理、放大、多路复用、数据转换和支持电路,比如采样保持和基准电压源。本书还讨论了许多常见应用。 概要 (pdf) 第1部分:精密传感器信号调理和传输 (pdf) 第2部分:多路复用模拟开关信号 (pdf) 第3部分:可编程增益放大器 (pdf) 第4部分:高精度采样保持电路 (pdf) 第5部分:适用于高精度系统的基准电压源 (pdf) 第6部分:高精度模数转换 (pdf) 第7部分:1B60:智能、数字化信号调理器 (pdf) 第8部分:音频应用 (pdf) 第9部分:高速信号和系统简介 (pdf) 第10部分:高速信号放大 (pdf) 第11部分:视频信号传输和处理 (pdf) 第12部分:选择合适的高速ADC (pdf) 第13部分:与高速ADC接口 (pdf) 第14部分:Σ-Δ型ADC和DAC (pdf) 第15部分:宽动态范围ADC应用 (pdf) 第16部分:高速ADC性能验证技巧 (pdf) 第17部分:高速DAC和直接数字合成 (pdf) 第18部分:通信中的信号计算应用 (pdf) 第19部分:电机控制电路 (pdf) 索引 (pdf)
包含AEC-Q001、Q002、Q003、Q004、Q005、Q006、Q102、Q104
AEC - Q200: Stress Test Qualification For Passive Components 共7章节
AEC - Q100: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Integrated Circuits 12章节,其中第三、第6章节已退役
AEC - Q101: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Discrete Semiconductors AEC_Q101-001A ;002(已退役);003A;004;005;006
WPC最新版Qi V1.2.4共四部分 Parts 1 and 2: Interface Definitions Part 3: Compliance Testing Part 4: Reference Designs
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