超深亚微米结构的实现

现在 ,超大规模集成 (VLSI )电路技术的快速发展 ,要求器件的尺寸随之缩小 ,通常所用的缩比理论 有准恒定电压理论 ( quasi - constant voltage theory, QCVT)和恒定电压理论 ( constant voltage theory, CVT)。根据这一理论 ,在缩小后的 MOSFET的沟道中将会产生很强的电场 ,从而很容易击穿栅介质。 在实际应用当中 ,器件的稳定性是衡量器件性能的一个重要指标 ,所以本文就超深亚微米 n -沟道 Si - MOSFET的栅介质击穿特性[ 1 ] 及相关参数进行分析 ,为今后有效应用小尺寸 MOSFET奠定基础。

synopsys软件简介《一》

synopsys软件简介《一》 2007-08-09 一 Astro 　Astro是Synopsys为超深亚微米IC设计进行设计优化、布局、布线的设计环境。Astro可以满足5千万门、时钟频率GHz、在0.10及以下工艺线生产的SoC设计的工程和技术需求。Astro高性能的优化和布局布线能力主要归功于Synopsys在其中集成的两项最新技术：PhySiSys和Milkyway DUO结构。 二 DFT DFT Compiler提供独创的“一遍测试综合”技术和方案。它和Design Compiler 、Physical Compiler系列产品集成在一起的，包含功能强大的扫描式可测性设计分析、综合和验证技术。DFT Compiler可以使设计者在设计流程的前期，很快而且方便的实现高质量的测试分析，确保时序要求和测试覆盖率要求同时得到满足。DFT Compiler同时支持RTL级、门级的扫描测试设计规则的检查，以及给予约束的扫描链插入和优化，同时进行失效覆盖的分析。 三 TetraMAX TetraMAX ATPG是业界功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具。针对不同的设计，TetraMAX可以在最短的时间内，生成具有具有最高故障覆盖率的最小的测试向量集。TetraMAX支持全扫描、或不完全扫描设计，同时提供故障仿真和分析能力。 四 Vera Vera验证系统满足了验证的需要，允许高效、智能、高层次的功能验证。Vera验证系统已被Sun、NEC、Cisco等公司广泛使用以验证其实际的产品，从单片ASIC到多片ASIC组成的计算机和网络系统，从定制、半定制电路到高复杂度的微处理器。Vera验证系统的基本思想是产生灵活的并能自我检查的测试向量，然后将其结合到test-bench中以尽可能充分测试所设计的电路。Vera验证系统适用于功能验证的各个层次，它具有以下特点：与设计环境的紧密集成、启发式及全随机测试、数据及协议建模、功能代码覆盖率分析。 五 VCS VCS是编译型Verilog模拟器，它完全支持OVI标准的Verilog HDL语言、PLI和SDF。 VCS具有目前行业中最高的模拟性能，其出色的内存管理能力足以支持千万门级的ASIC设计，而其模拟精度也完全满足深亚微米ASIC Sign-Off的要求。VCS结合了节拍式算法和事件驱动算法，具有高性能、大规模和高精度的特点，适用于从行为级、RTL到Sign-Off等各个阶段。VCS已经将CoverMeter中所有的覆盖率测试功能集成，并提供VeraLite、CycleC等智能验证方法。VCS和Scirocco也支持混合语言仿真。VCS和Scirocco都集成了Virsim图形用户界面，它提供了对模拟结果的交互和后处理分析。 六 Power Compiler Power Compiler?提供简便的功耗优化能力，能够自动将设计的功耗最小化，提供综合前的功耗预估能力，让设计者可以更好的规划功耗分布，在短时间内完成低功耗设计。Power Compiler嵌入Design Compiler/Physical Compiler之上，是业界唯一的可以同时优化时序、功耗和面积的综合工具。