元器件应用中的芯片开发和生产中的IC测试基本原理

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元器件应用中的芯片开发和生产中的IC测试基本原理

: 元器件应用中的芯片开发和生产中的IC测试基本原理 　本文主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。　2 数字集成电路测试的基本原理　器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境...
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