ARM_trace32_内存调试命令调试方法教程.docx

ARM_trace32_内存调试命令调试方法教程 本教程主要介绍了 ARM JTAG 调试的基本原理，包括 TAP (TEST ACCESS PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍。在本教程中，我们将从 IEEE 1149.1 标准开始，了解 JTAG 调试的基本原理，并对 ARM JTAG 调试的基本原理进行了详细的介绍。 一、JTAG 调试标准 JTAG 调试标准是由 IEEE 提出的，IEEE 1149.1 标准是 JTAG 调试的基本标准。JTAG 调试标准主要包括两个部分：TAP (TEST ACCESS PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE。TAP 是一个通用的端口，通过 TAP 可以访问芯片提供的所有数据寄存器（DR）和指令寄存器（IR）。BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 是一种边界扫描技术，可以对芯片的输入输出进行观察和控制。 二、边界扫描技术 边界扫描技术是 JTAG 调试中一个非常重要的概念。边界扫描技术的基本思想是在靠近芯片的输入输出管脚上增加一个移位寄存器单元。这些移位寄存器单元都分布在芯片的边界上（周围），所以被称为边界扫描寄存器（Boundary-Scan Register Cell）。当芯片处于调试状态的时候，这些边界扫描寄存器可以将芯片和外围的输入输出隔离开来。通过这些边界扫描寄存器单元，可以实现对芯片输入输出信号的观察和控制。 三、TAP (TEST ACCESS PORT) TAP 是一个通用的端口，通过 TAP 可以访问芯片提供的所有数据寄存器（DR）和指令寄存器（IR）。TAP 总共包括 5 个信号接口 TCK、TMS、TDI、TDO 和 TRST，其中 4 个是输入信号接口和另外 1 个是输出信号接口。TAP Controller 是 TAP 的控制器，负责控制整个 TAP 的操作。 四、JTAG 调试的应用 JTAG 调试的应用非常广泛，包括 ARM7TDMI 等微处理器的调试。JTAG 调试可以对芯片的输入输出进行观察和控制，对芯片的调试和测试提供了很大的帮助。 本教程对 ARM JTAG 调试的基本原理进行了详细的介绍，包括 JTAG 调试标准、边界扫描技术和 TAP 的介绍。这些知识点对了解 JTAG 调试的网友们有很大的帮助。