TI-SN54BCT8374A.pdf

TI-SN54BCT8374A是一款由德州仪器（Texas Instruments）推出的测试集成芯片，属于SCOPE家族的一员，专门设计用于提高电路板组件的测试能力，特别是在复杂电路板组装中的边界扫描测试。这款芯片支持IEEE 1149.1-1990标准，即JTAG（Joint Test Action Group）测试访问端口和边界扫描架构。 该器件集成了八位D型边沿触发触发器，正常工作模式下，它们的功能等同于传统的F374和BCT374八位D型触发器。在正常模式下，即使激活TAP（Test Access Port），也不会影响SCOPE八位触发器的正常功能。TAP是一种四线接口，用于实现对测试电路的扫描访问。 在测试模式下，SCOPE八位触发器的常规操作被抑制，而测试电路被启用，允许观察并控制设备的输入/输出(I/O)边界。测试电路可以执行多种功能，包括但不限于： 1. 捕获数据快照：在特定时间点捕捉出现在设备终端上的数据状态。 2. 自我测试：对边界测试单元进行内部自我检测，检查芯片内部逻辑的正确性。 3. 并行签名分析：通过输入端进行并行签名分析，以检测电路板上多个位置的信号一致性。 4. 随机模式测试：从输出端生成伪随机测试模式，用于检测电路对外部输入的响应。 5. 样本输入/翻转输出：在控制下采样输入信号或翻转输出信号，以测试I/O路径的完整性和稳定性。 TI-SN54BCT8374A还具有一个可选的测试复位信号功能，当TMS（Test Mode Select）引脚检测到双高电平电压（10V）时，能够实施测试复位。这有助于在测试过程中进行精确的控制和初始化。 封装选项包括塑料小外形(DW)封装、陶瓷芯片载体(FK)以及标准塑料(NT)和陶瓷(JT)300-mil DIP封装，满足不同应用场景的需求。 TI-SN54BCT8374A是一款专为提高电路测试效率而设计的集成电路，它结合了常规功能与测试模式，兼容IEEE 1149.1标准，提供灵活的封装选择，并具备强大的测试功能，如数据捕获、自我测试、并行签名分析和随机模式测试等，是现代电子设计中进行复杂系统级测试的重要工具。