根据提供的文件信息,本文主要探讨了高速模数转换器(Analog-to-Digital Converter, ADC)的研究与设计,特别是针对采样率超过10GS/s的超高速ADC技术。以下是对该研究的主要知识点进行详细说明。 ### 高速模数转换器基本原理 模数转换器(ADC)是一种将连续变化的模拟信号转换为数字信号的电子器件。它在电子系统中起着“桥梁”的作用,连接着模拟世界和数字世界。随着计算机处理能力和微电子技术的飞速发展,对ADC的性能要求不断提高,尤其是对于转换速率的要求更为迫切。超高速ADC可以显著增加数字系统获取的信息量,从而提升整个系统的性能和竞争力。 ### ADC的相关技术指标 在讨论ADC时,有几个重要的技术指标需要了解: - **采样率**:单位时间内ADC可以完成的转换次数,通常用样本/秒(Samples per Second, S/s)来表示。 - **分辨率**:ADC输出数字信号的位数,决定了转换后的数字信号的精细程度。 - **量化误差**:由于ADC的分辨率有限,实际转换结果与理论值之间的差异。 - **信噪比**(SNR):有效信号功率与噪声功率之比,衡量信号质量的一个重要参数。 - **失真**:转换过程中产生的非线性误差,如微分非线性(DNL)和积分非线性(INL)。 ### ADC实现结构 根据不同的应用需求和技术方案,ADC可以有不同的实现结构,常见的有: - **逐次逼近型ADC**(Successive Approximation ADC):通过逐次比较参考电压和输入电压来确定输出的二进制码。 - **闪存型ADC**(Flash ADC):使用大量比较器同时比较输入信号与多个参考电压,适用于高速但分辨率较低的应用场景。 - **全并行型ADC**:一种超高速ADC结构,能够在单个时钟周期内完成转换过程。 ### 超高速ADC关键技术研究 #### 1. 跟踪保持放大器(THA) - **性能受限因素**:跟踪保持放大器的性能受到多种因素的影响,包括时钟馈通、电荷注入、线性度等。 - **解决方案**:采用CMOS开关和Dummy开关结合的方式减少时钟馈通和电荷注入的影响。使用共源差分放大器作为输入和输出缓冲电路,保证信号传输的线形度。通过交叉耦合对管进一步降低电荷注入效应和跟踪时刻的时钟馈通效应。采用有源电感作为负载以扩展放大器带宽。 #### 2. 超高速比较器 - **高速锁存比较器实现结构**:比较了不同类型的高速锁存比较器,包括源级耦合逻辑(Source-Coupled Logic, SCL)锁存器。 - **动态有源电阻负载**:利用动态有源电阻作为负载实现动态SCL锁存结构,这种结构可以在跟踪放大阶段减小电阻值以降低复位时间,在再生锁存阶段增大电阻值以减小再生时间常数,从而提高再生速度。 - **主从式超高速比较器**:采用动态SCL锁存器两级级联实现,为实现低功耗超高速ADC提供基础。 ### 全并行ADC系统设计 - **设计目标**:基于TSMC 90nm CMOS工艺,设计了采样率为20GS/s的4bit全并行ADC系统。 - **性能指标**:仿真结果显示,该电路最高采样率为20GS/s,微分非线性和积分非线性均小于0.5LSB,有效位为3.78bits,功耗为457mW。 - **简化版本**:为了降低成本和面积,将4bit全并行ADC简化为3bit全并行ADC,并完成了整体的版图设计。 本文通过对超高速ADC的关键技术进行深入研究,不仅提出了有效的解决方案来改善THA和比较器的性能,还基于这些研究成果成功设计出了高采样率的全并行ADC系统,为进一步推动高速信号处理技术的发展奠定了坚实的基础。
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