基于浮栅技术的闪存

浮栅技术是一种用于制造闪存存储器的关键技术，其工作原理是通过浮栅上的电荷捕获来改变晶体管的阈值电压，从而实现数据的存储。在浮栅技术的基础上，恒忆开发了闪存产品，这些产品在电路板上用于长期可靠地保存数据。 当晶体管的浮栅捕获电子时，电子的数量会影响晶体管的导电性，导致晶体管的阈值电压发生改变。这种变化使得晶体管能够以不同的电荷状态来代表二进制信息，即可以编码为0或1。在浮栅晶体管中，绝缘栅极（即浮栅）与控制栅极之间是隔离的，这使得浮栅可以长期保存捕获的电子，即使在电源断开的情况下也能保持数据不丢失。 在讨论浮栅技术时，我们不得不提到多级单元设计，这种设计允许单个晶体管存储更多的信息。测试和实验已经证实，浮栅技术在单级单元和多级单元设计中都有效，这为开发出具有更高存储密度和更复杂存储能力的闪存技术铺平了道路。 然而，高能量辐射，例如X射线，对浮栅闪存构成潜在威胁。高能X射线可以穿透存储器，可能会损坏浮栅中的电子，导致数据丢失。由于X射线被用于多个质量保证应用，包括电路板的3D断层照相，因此，浮栅闪存在其生命周期中很可能遭受X射线的照射。 为此，浮栅闪存制造商必须了解X射线对其产品可靠性的具体影响。在正常情况下，X射线用于检测印刷电路板的剂量不会影响浮栅闪存的阈值电压分布。但是，当X射线剂量异常高时，会导致阈值电压偏离，这表明存储内容受到了X射线的影响。 为了评估X射线对恒忆浮栅闪存数据可靠性的影响，恒忆与汽车电子系统供应商合作进行了深入的测试分析。研究结果表明，在正常X射线剂量（低于1Rad）的情况下，浮栅闪存的阈值电压分布没有发生变化，这意味着在制造过程中无需重新编程闪存单元。即使X射线剂量高于1Rad，恒忆的测试也表明，阈值电压的偏移只有在X射线剂量提升到正常值的1000倍以上时才会发生。 这一研究结果对于使用恒忆闪存产品的客户来说意义重大，因为它们可以确信使用X射线检查印刷电路板不会影响数据的可靠性，从而避免了可能的重复编程和相关的额外成本。通过这种方式，制造商可以确保他们的产品在制造过程中保持数据的完整性，并提高整体的生产效率。