一种频率特性测试仪的设计
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2020-08-07
23:58:25
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一种频率特性测试仪的设计一种频率特性测试仪的设计
以单片机80C51和可编程逻辑器件(FPGA)为控制中心，设计了一个频率特性测试仪，用于测试某一特定网络的
频率响应特性。
本系统的主要特点是由FPGA驱动多种串行芯片，在精简了系统电路结构的同时也不影响程序的效率。其中扫频信号由
AD9851的串行方式产生，扩展了频率范围及稳定性。幅度测量由有效值采样芯片AD637和10住串行A／D转换器TLV1544配
合实现，相位测量采用计数法实现。频率特性曲线由12位串行双D／A转换器TLV5638输出，并经示波器显示出来。本系统幅
度测量精度达到5％，相位测量精度达到1°。
频率特性的测量采用扫频的方法实现，用AD9851产生扫频信号，可产生频谱纯净、频率范围广且稳定度非常高的正弦波。通
过二极管负反馈桥式限幅放大电路及有效值采样电路等实现频响特性的测量，最后用示波器显示被测网络的幅频特性及相频特
性。
本系统的一个特点是采用了较多串行芯片(AD9851，TLV1544和TLV5638)。为了使电路中的信号干净，应减少电路连线，采
用串行芯片可以有效精简电路，保证电路的稳定性和减少信号噪声。但由于串行芯片牺牲了程序的时间效率，所以应该合理设
计程序结构。
1系统方案论证与选择
1．1幅度测量电路的设计与论证
方案1：峰值检波电路。基本的峰值检波电路是由二极管电路和电压跟随器组成，通过电容的充放电实现。此电路测量低频信
号时检波的纹波较大，适合于测量中高频率段的信号。
方案2：真有效值检波。从真有效值检波的工作原理可以分为线性有效值检波器、对数有效值检波器和数字有效值检波器。典
型的真有效值转换芯片为AD637，使用AD637在测量峰值系数高达10的信号时附加误差仅为1％，且外围元件少、频带宽。
综上，选择方案1。
1．2相位测量电路的设计与论证
方案1：波形分析法。采用两片高速A／D转换芯片同时对输入的两路信号进行等时间间隔采样并将采样结果分别存储，然后对
所测信号的波形数据进行分析。扫描存储在RAM中的波形数据，计算两片A／D转换器采集两部分波形数据的最大值或最小值
的时间间隔，则信号的相位差为：φx=(Tx／T)x360°其中，Tx为两路信号相临极值的时间间隔，T为信号周期。
方案2：计数法。将两路被测信号经过异或门后，产生一个鉴相脉冲信号，送入FPGA进行记数，计数值为N。若信号频率
为，f，计数频率为fclk，则相位差为：φx(Nf／fclk)x360°，可判断被测信号是比标准信号相位超前还是滞后。由于相差在0°～
180°之间和360°～180°之间是对称的，异或后的计数值是相同的，故需加上一极性判别电路。相位的极性判决电路可由D触发
器实现，将两路信号接D触发器的D端和CP端，从0端输出的高低电平可判别相差的极性。
方案1需要用软件对大量的波形数据进行处理才能达到较高的精度，且采集时间间隔难以精确控制，主要适用于精度要求不是
很高的情况。方案2的测量过程可以全部由FPGA实现，AD9851产生的信号频率f已知，无需测频，所以这种方法非常容易实
现，而且采用FPGA的40M高频晶振计数，测量精度和测量范围都得到提高。因此采用方案2。
2系统总体设计方案及实现框图
本系统以单片机及FPGA为核心，由扫频信号源模块、峰值检测模块、限幅放大模块和相位测量模块构成。系统框图如图1所
示。为了提高效率，芯片控制主要由FPGA实现，单片机仅提供系统各模块的触发信号。系统工作时，AD9851产生一定频率
的正弦信号，经过被测网络后，其幅值、相位会有所改变。将被测网络的输出端经过AD637有效值检测电路即得出信号的真
有效值，A／D采样后送于单片机。同时，分别将被测网络前后的信号经过限幅放大模块整形为峰峰值为+5V的方波，送入
FPGA进行相位测量。再改变信号发生器的频率，测量对应频率点的相位差与幅度值，直到完成整个频率段的测试，最后将被
测网络的幅频特性和相频特性曲线用示波器显示出来。
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