第一性原理研究厚度和空位缺陷对Si/SiO2界面电子结构与光学性质的影响

需积分: 10 1 下载量 74 浏览量 2021-05-19 18:09:58 上传 评论 收藏 3.64MB PDF 举报
weixin_38712578
  • 粉丝: 4
  • 资源: 930
上传资源 快速赚钱
voice
center-task 前往需求广场,查看用户热搜