基于FPGA的2M误码测试仪设计

本文所介绍的误码测试系统采用以大规模现场可编程逻辑器件FPGA及外围接口芯片构成，文中详细介绍了系统硬件架构中EI接口电路以及FPGA内核中序列发生模块和序列接收模块中核心内容的设计方法，并给出了部分模块的仿真波形。