本文提出了一种用于测试简单的两级电子电路的新解决方案。 它可以最大程度地减少确定电路可靠性的测试次数。 本研究工作背后的主要思想是，确定给定电路中存在的最大数量的不可区分的故障，并根据已检测到的故障数将测试用例的数量减至最少。 启发式方法用于测试最小化部分，该部分从总体测试用例中识别出必要的测试。 从结果可以看出，测试最小化从50％到99％不等，最低的对应于具有四个门的电路。与门中较大的输入引线相比，门中输入引线较少的电路的测试最小化程度较低具有相同符号数的布尔表达式。 减少99％的结果是由于大量测试发现了相同的故障。 新方法是针对简单电路实现的。 结果表明，较小的测试集和较低的cpu时间都具有潜力。
