这是论文中光场特征检测器和描述符的实现：
[1] DG Dansereau、B. Girod 和 G. Wetzstein，“LiFF：尺度和深度的光场特征”，arXiv 预印本 arXiv:1901.03916，2019 年 1 月。论文和补充信息位于https://arxiv.org /abs/1901.03916 。
该功能与 SIFT 特征检测器和描述符非常相似，但利用光场中的信息来提供更强大和信息量更大的特征。 通过搜索具有明确定义的比例的特征（如SIFT），也可以具有明确定义的深度（在光场中表现为斜率）来工作。 这会拒绝更多虚假特征，检测部分遮挡的特征，并构建对部分遮挡、噪声和高阶光传输效应具有更大免疫力的描述符。 它还提供了每个特征的深度（坡度）估计。
目前，该工具箱是为MATLAB编写的，并带有预编译的二进制文件，可在MATLAB中使用。 如果有需求，可以将其扩展为
