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第
14
卷第
11
期
带双投影物镜和全息屏幕的投影型全息显微镜
徐昆贤
(上海市激尤技术研究所)
提要:本文
提出了一种可用于集成电路装配和质量控制的
、带有 双投影物镜和
全息光学元件
散射全息屏幕的投影型企息显微镜
(PHM)
系统。介绍了该系统的光
学原理、全息散射
屏幕的记录方案
、系统色差的改善和投影显微系统的特性。
Projection
type
holographic
microscope
(PHM)
with
double
projection
objectives
and
a
holographic
screen
Xu
Kun
xi
αn
(Sh
ang
hai lnstitu
te
of
L
ase
.r
T
ech
no
lo
gy
, Shanghai)
Abstraot:
A
proj
ecti0n-type holographic microscope with double
proj
ection-objectives and
a holographic screen
us
ed
for
integrated circuits assembly
and
quality
control is described. The
optical principle
of
PHM
, recording scheme of holographic dispersion
of
scr
ee
n and relative
paramet
e
rs
of
PHM
are discussed.
一、引
d
近代各工业部门对微型电路和精密零
件
等的装配操作和质
量控
制仍
使
用经典的双筒
立体显微镜。但是,显微镜观察极易导致观
察
者视力和体力的迅速疲劳,从而导致产品
质
量
和劳动生产率的下降。
为了克服显微镜观
察
的上述缺点,一种
可行的办法是把物体的像投影在屏幕上来进
行观察。这种观察与在显微镜出幢处的(约
1
1""oo1
3mm
)
观 察
相比,它有大得多的观察区
域,因此对观察者来说就更为舒适。但是,一
般郑学仪器中所使用的透过型散射屏对入射
在其上的光通量是按宽角均匀散射的。因此
只有极小一部分光线进入眼膛
。
加之,待观
察
的
零
件一般都采用反射照明
2
所以屏幕像
亮度极低。同时
3
上述屏幕也不能形成三
维
图像。所以普通透过型散射屏幕是不能用于
获得高亮度三维显微放大图像的。
建立在双目视
差基
础上的体视术和建立
在对物体
信息
进行干涉编码
基
础上的全息术
是提供物体三维显示的两种有效技术
C1J
。
但
上述两种方法均存在
着对信息编码和解码的
比较
复杂
的过程
。全息术干涉编码对
外界干
扰十分敏感,因此总是要在严格的稳定条件
下才能进行。同时全息图用激光解码的过程
收稿日期:
1986
年
8
月
11
日.
.667
.-