图1所示的数字可编程精密电阻可在定制设计的 ATE（自动测试设备）中
用作微处理器驱动的电源负载。IC1 是一个 8 位 电流输出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驱动电流-电压变换器 IC2A，IC2A又驱动功率 MOSFET Q1 的栅极。被测器件连接到 J1 和 J2。在工作时，来自被测器件的电流在采样电阻 R8A 和 R8B 上形成一个电压。放大器 IC2B 驱动 IC1 的基准输入端，并使反馈路径闭合。当 R8A 和 R8B 上的压降达到 Q2 的 VBE(ON) 时，晶体管 Q2 分流 Q1 的栅极驱动电流，提供过流保护功能。VO 和 IO 分别为输出
在电子测试领域，数字可编程电阻常常用于模拟各种负载条件，以便在自动测试设备(ATE)中对微处理器驱动的电源进行精确测试。这个特定的应用中，数字可编程精密电阻被设计成一个智能负载，能够根据需要改变其阻值，从而模拟不同负载情况。
如图1所示，该系统的核心是8位电流输出型DAC（数字模拟转换器），型号为DAC08。此DAC接收来自微处理器的数字信号，并将其转化为模拟电流。这个电流随后通过电流-电压变换器IC2A，控制功率MOSFET Q1的栅极电压，进而调节MOSFET的导通程度，实现对负载电阻的控制。MOSFET Q1的作用类似于一个可变电阻，它的导通状态由DAC的输出电流决定。
被测器件(DUT)的电源端口连接到接口J1和J2。当DUT工作并产生电流时，电流流经采样电阻R8A和R8B，这两个电阻用来监测DUT的电流输出。在R8A和R8B上产生的电压降反映了DUT的电流负载。放大器IC2B不仅驱动IC1的基准输入，还形成了一个负反馈回路，确保系统的稳定性。
为了防止过流，系统设计了一个保护机制。当R8A和R8B上的压降达到Q2（一个晶体管）的开启电压VBE(ON)时，Q2开始分流Q1的栅极驱动电流，降低了Q1的导通程度，从而限制了流过DUT的电流，起到了过流保护的作用。输出电压标记为VO，输出电流标记为IO，它们反映了DUT在当前设定下的工作状态。
此外，该电路的输出电阻可以通过以下公式计算：
\[ I_O = \frac{V_O}{R_{eq}} \]
其中，\( R_{eq} \)是电路的等效电阻，可以通过以下公式获得：
\[ R_{eq} = \frac{R1}{A(N+1)} + \frac{R2}{A} \]
这里的R1由R1A和R1B并联组成，N是加到IC1的二进制输入的等效十进制值，而A是放大级IC2B的增益。
通过调整电路的元件参数，可以改变等效电阻的范围。例如，使用全“0”二进制输入（N=0）时，电阻大约为5.5Ω，而全“1”二进制输入（N=255）时，电阻约为255Ω。如果需要更广泛的电阻范围或更高的精度，可以考虑更换更高分辨率的D/A转换器，如10位的。同时，为了提高电路的功率处理能力，可以选择更大功率的MOSFET，并配合适当的散热器。电容C3和C4则影响电路的响应频率，决定了系统能应对的最高频率电流变化。
这种数字可编程精密电阻的设计为ATE提供了灵活、可调的负载模拟方案，确保了对微处理器电源测试的全面性和准确性。通过精细的电路设计和元件选择，可以满足不同测试需求，提高测试效率，并确保被测器件的安全运行。
