以Lattice公司的ispLSI1032E为被测对象，设计出一套测试装置，对该芯片的性能指标和可能出现的故障进行测试。本装置只需配置三次电路和施加相应的测试向量就能对芯片进行全面的测试，提高了测试效率，实用价值很高。
【CPLD器件测试系统】是指一种专门针对Lattice公司的ispLSI1032E芯片进行性能评估和故障检测的设备。CPLD（Complex Programmable Logic Device），即复杂可编程逻辑器件，因其可重复编程性和较低的设计成本，近年来在通信、医疗、工业控制等多个领域广泛应用，逐渐替代ASIC（Application Specific Integrated Circuit）。
该测试系统由四部分组成：上位机软件、通信电缆、控制电路和待测CPLD（ispLSI1032E）。上位机软件通过USB转串口线与控制电路交互，发送测试命令，控制电路则负责执行命令，发送测试向量，并将测试响应返回给上位机进行分析。这种设计大大提升了测试效率。
ispLSI1032E是一款高密度可编程逻辑器件，拥有192个寄存器、64个通用I/O管脚等资源，其核心是通用逻辑块（GLB），每个GLB包含18个输入、一个可编程的逻辑阵列及4个可配置的输出。GLB间的全局布线区（GRP）提供灵活的互连，便于实现复杂逻辑功能。
控制电路采用了Lattice公司的ispMACH4A5系列的M4A5-192芯片，具备足够的逻辑资源来控制ispLSI1032E的测试过程。控制电路执行上位机指令，控制继电器开关，发送和接收测试数据。
测试ispLSI1032E主要分为三次电路配置：配置电路一主要进行输入输出功能测试、传输延迟测试和输入信号阈值测试，通过输入特定值并比较输出，识别可能存在的故障。配置电路二与配置电路一类似，但输入输出方向相反。内部逻辑资源的测试则更深入地检查每个逻辑单元的功能，确保整个CPLD内部的正确性。
整个测试流程采用“分治法”策略，高效且全面，能够快速定位和识别ispLSI1032E可能出现的问题，提高了测试的准确性和实用性，对于保证CPLD在实际应用中的可靠性至关重要。
