德州仪器(TI)宣布推出一款可显著节约高速应用开发时间与成本的新型工具，能够使 TI的高分辨率高速 ADC 实现快速的数字数据采集。该款新型的数据采集卡与软件帮助用户轻松评估ADC 性能，并能够迅速为2.5G/3G 无线基站、通信设备以及测试测量设备等各种系统应用选择最佳匹配的设备。TSW1100 的数据采集速率高达 170 MSPS、分辨率高达 16 位、数据采集深度高达 100 万点。该器件可工作于单通道或双通道模式，因而可实现双通道 ADC 的同步采集。数据通过 USB 接口传输，利用个人电脑即可轻松控制。 过去，分析 ADC 性能常常需要采用成本高昂的逻辑分析仪，而且要遵循复杂的分析流
