电子测量中的利用电子测量中的利用TDR （时域反射计）测量传输延时（时域反射计）测量传输延时
摘要：随着时钟速率的提高，利用高速示波器有源探头测量延时的传统方法很难获得准确结果。这些探头成为
高速信号通路的一部分，并造成被测信号的失真，引入误差。探头还必须直接置于器件引脚，以消除PCB (印刷
电路板)引线长度产生的延时误差，满足探头位置的这一要求是困难而复杂的过程。本文介绍了如何利用TDR
(时域反射计)测量降低探头误差的方法，有助于提高传输延时测量精度。 分析方法 本文基于以下三个
前提： 1.利用TDR (时域反射计)减小探头误差。TDR通常用来测量信号通路长度与阻抗变化的关系。TDR
也是测量传输延2.时的重要工具。 2.避免直接探测。由于加载的原因，有源探头会
摘要：随着时钟速率的提高，利用高速示波器有源探头测量延时的传统方法很难获得准确结果。这些探头成为高速信号通
路的一部分，并造成被测信号的失真，引入误差。探头还必须直接置于器件引脚，以消除PCB (印刷电路板)引线长度产生的延
时误差，满足探头位置的这一要求是困难而复杂的过程。本文介绍了如何利用TDR (时域反射计)测量降低探头误差的方法，有
助于提高传输延时测量精度。
分析方法
本文基于以下三个前提：
1.利用TDR (时域反射计)减小探头误差。TDR通常用来测量信号通路长度与阻抗变化的关系。TDR也是测量传输延2.时的
重要工具。
2.避免直接探测。由于加载的原因，有源探头会使测量变得复杂，并引入误差。
3.利用一个实例演示这一方法。本文将以MAX9979为例，该芯片为高速引脚电子电路，适合于ATE系统。芯片内部集成
了双路高速驱动器、有源负载以及工作在1Gbps以上的窗比较器。
此处介绍的方法适用于任何高速器件。
TDR原理
TDR测试方法中，沿信号通路传输高速信号边沿，并观察其反射信号。反射能够说明信号通路的阻抗以及阻抗变化时信
号延时的变化，TDR测试的简单示意图如图1所示:
图1. TDR原理，TDR测量基于反射系数ρ，其中ρ = (VREFLECTED/VINCIDENT)。最终，ZO = ρ × (1 + ρ)/(1 - ρ)。从图
1可以得到两个重要概念：
1.TDLY是我们将要测量的PCB (印刷电路板)引线延时。
2.ZO是被测PCB引线的阻抗。
仪器和*估板
为了测量纳秒级的延时，需要非常快的脉冲发生器、高速示波器以及高速探头。我们也可以利用具有TDR测量功能的
Tektronix? 8000 (图2)系列示波器(TDS8000、CSA8000或CSA8200)，配合80E04 TDR采样模块使用。本文采用
MAX9979EVKIT (*估板)、Hewlett Packard 8082A脉冲发生器和TDS8000/80E04进行演示。图3所示为MAX9979EVKIT部分
电路。可以选择使用任何具有TDR功能的高速示波器和任何高速差分脉冲发生器，同样能够获得相似结果。
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