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3D time-of-flight distance measurement with custom solid-state
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3D Time-of-flight distance measurement
with custom solid-state image sensors
in CMOS/CCD-technology
3D Time-of-flight distance measurement
with custom solid-state image sensors
in CMOS/CCD-technology
Robert Lange
Robert Lange
3D Time-of-Flight Distance Measurement
with Custom Solid-State Image Sensors in
CMOS/CCD-Technology
A dissertation submitted to the
D
EPARTMENT OF
E
LECTRICAL
E
NGINEERING AND
C
OMPUTER
S
CIENCE AT
U
NIVERSITY OF
S
IEGEN
for the degree of
D
OCTOR OF
T
ECHNICAL
S
CIENCES
presented by
Dipl.-Ing. Robert Lange
born March 20, 1972
accepted on the recommendation of
Prof. Dr. R. Schwarte, examiner
Prof. Dr. P. Seitz, co-examiner
Submission date: June 28, 2000
Date of oral examination: September 8, 2000
To my parents
3D Distanzmessung nach dem
„Time-of-Flight“- Verfahren mit
kundenspezifischen Halbleiterbildsensoren
in CMOS/CCD Technologie
V
OM
F
ACHBEREICH
E
LEKTROTECHNIK UND
I
NFORMATIK
DER
U
NIVERSITÄT
-G
ESAMTHOCHSCHULE
S
IEGEN
zur Erlangung des akademischen Grades
D
OKTOR DER
I
NGENIEURWISSENSCHAFTEN
(D
R
.-I
NG
.)
genehmigte Dissertation
vorgelegt von
Dipl.-Ing. Robert Lange
geboren am 20. März 1972
1. Gutachter: Prof. Dr.-Ing. R. Schwarte
2. Gutachter: Prof. Dr. P. Seitz
Vorsitzender der Prüfungskommission: Prof. Dr.-Ing H. Roth
Tag der Abgabe: 28. Juni 2000
Tag der mündlichen Prüfung: 8. September 2000
Meinen Eltern
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强强徐
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