基于高光谱透射成像的鸭梨内部缺陷检测方法研究

基于高光谱透射成像的鸭梨内部缺陷检测方法研究，陆卓远，崔笛，本研究以鸭梨为研究对象，采用透射方式采集样本的高光谱图像，初步探索了基于高光谱透射图像分析的鸭梨内部缺陷检测方法。设计完