基于嵌入式的回热器测试控制系统设计与实现

针对回热器性能研究的需要，采用上位机和下位机相结合的控制架构方法设计了一种嵌入式控制系统。其中下位机硬件上以ARM Cortex-M3内核的STM32F103芯片为核心，软件基于VxWorks嵌入式操作系统；上位机使用组态王软件。说明了系统软硬件设计方法，上位机和下位机之间采用MODBUS/TCP通信协议实现数据传输，构建了一个结构相对简单、功能可行的回热器参数测试的控制系统，应用该控制系统测试回热器性能，获得的相关性系数达 0.99，表明该控制系统已可对回热器单向流阻特性做较为精确的参数测量与控制工作。其经验可以用于其它类似的控制系统的研制工作，具有一定的设计参考价值。