接近绝对准确度的光学面形测量

光谱物理公司的科学家们研究了一种测量光学元件面形的新技术，其准确度比以前达到的水平更高。该公司光学分部的基南博士（P. Keenan)说，这项技术可以看成是自定标过程。它所以能达到高准确度，是因为去掉了干涉测量中所需要的参考标准。光谱物理公司现正用这种方法检验各种激光元件,包括转向反射镜、分束器和透过滤光片。