基于FPGA的系统易测试性的研究

调试针对Altera和Xilinx的FPGA系统时用嵌入式逻辑分析仪和外部逻辑分析仪这2种方法各有其优势和不足，而FPGAView等新方法进一步提高了外部逻辑分析仪方法的吸引力。能够快速方便地移动探点，而不需重新汇编设计，同时能够把内部FPGA信号活动与电路板级信号关联起来，能够较好地满足产品开发周期的要求。