非插入式器件的测量

本文是验证性实验，通过计算双阴和双阳转接器去除它们在测试中对非插入器件的影响。将普遍适配器的问题特殊化和简单化，但是这对其他适配器的测量，和进一步对端口延伸和去嵌入技术的研究有了理论上的突破口。