采用自悬浮定向流方法制各金属Cu纳米粉体,在25℃和1. 0-1. 75 GPa的高压下,单向模压成型,制备含量高于95%的高密度纳米金属Cu晶体材料。用透射电镜、X射线衍射谱和场发射扫描电子显微镜对样品的结构进行表征。结果表明:X射线衍射分析的平均晶粒尺寸未退火时为19. 9 nm,退火后为30.5 nm(TEM观察约为60 nm),颗粒基本为球形;样品中除了纳米晶粒外,还出现孪晶结构;孪晶是纳米Cu粉在超高压作用下形变的重要特征之一;纳米晶体Cu样品的电阻率在室温下约为1. 56 x 10-7Ω.m,
