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Cz 法砷化镓熔体流动与传热传质数值模拟
王正乾,李明伟,徐赟瑜,王晓丁,程旻
重庆大学动力工程学院,重庆(400030)
E-mail:wzq19830813@163.com
摘要:采用低雷诺数 k
− 湍流模型,模拟了 Cz 法砷化镓熔体的流动与传热传质。分析了
不同晶体和坩埚转速、不同温差条件下的砷化镓熔体流动与传热;分析了考虑溶质分凝效应
后在不同晶体和坩埚转速、不同温差条件下,Si 掺杂在砷化镓熔体中的质量浓度分布;得
到了在微重力条件下的熔体流动与 Si 的质量浓度分布。结果表明:常重力下在不同晶体转
速,不同坩埚转速,不同温差条件下熔体/晶体生长界面和轴线上 Si 的质量浓度呈非线性分
布,分布规律各不相同;微重力条件下熔体流动大大削弱,熔体/晶体生长界面和轴线上 Si
的质量浓度亦呈非线性分布;无论在常重力还是微重力下,轴线上 Si 的质量浓度梯度主要
集中在晶体生长界面附近。
关键词:提拉法;质量浓度;数值模拟;硅
中图分类号:TK11
+
4
1.引言
Cz 法是一种主要的生长砷化镓单晶的方法。熔体的流动与传热影响着晶体的生长环境,
进而决定了晶体的质量。为了获得更好的光电性能,需要在 GaAs 熔体中掺杂硅等物质。然
而因为分凝效应[1],传统 Cz 法生长出的单晶的掺杂物质浓度随空间分布不同,影响了单晶
的质量。为了抵消掺杂物的分凝效应,生长出均匀掺杂的单晶,可以采用气氛压力法
[2]
。通
过施加不同的气氛压力,Si 的蒸发速率不同,从而使得自由表面 Si 的质量浓度维持在不同
值。除气氛压力法外,还可采用双坩埚法。文献中用的多是双坩埚法,如 Okada
[3]
等人曾采
用双坩埚 LEC 法生长出掺杂物铟均匀分布的砷化镓单晶。J. He
[4-5]
等人进行了双坩埚下不同
补充熔体方式的砷化镓掺杂铟的实验研究。本文采用单坩埚气氛压力法,因为它有设备相对
简单等优点。当 Gr 大于 10
7
时
[6]
,或强制对流的旋转雷诺数 Re 超过 1×10
4
时
[7]
,熔体进入
湍流状态。目前还未见考虑分凝效应后 Cz 法砷化镓熔体流动与传热传质的报告。本文采用
低雷诺数
k
− 模型,分析了不同晶体转速,不同坩埚转速,不同温差条件下的流体流动与
传热,并在微重力下对 Si 在砷化镓熔体中的质量浓度分布进行了研究。
2.数学物理模型及数值方法
图 1 给出了本模拟简化模型。坩埚半径 R
c
=80mm,顺时针旋转,转速
c
Ω ;晶体砷化镓
半径 R
s
=30mm,逆时针旋转,转速
。砷化镓熔体高度 H=58mm。定义逆时针旋转为正,
顺时针旋转为负。由于溶质分凝效应,使得熔体-晶体界面在晶体生长过程中不断有 Si 产生
并返回到熔体中。砷化镓熔体的物性参考文献
[8]
。坩埚侧壁定温,底部绝热。表一为相关材
料物性。
本课题得到国家自然科学基金项目资助(50676113).