电子元件可靠性分析_2

电子元件可靠性分析 电子元件可靠性分析是贯穿于整个设计过程中的一个重要概念。可靠性分析的主要目的是为了确保电子设备的长期稳定运行。为达到这个目标，需要对电子元件进行可靠性分析，并估算电子设备的可靠性特征量。 在设计初期，可以采用元器件计数预计法的概念。这种方法是根据设备中各类元器件的数量及该类元器件的通用失效率、元器件质量等级和设备的应用环境类别来估算电子设备可靠性的一种方法。该方法可以简单地划分出各个子模块的失效概率，对后面的设计选型提供一定的依据。 元器件计数预计法的步骤包括： 1. 划分系统为子系统，以功能为子系统划分的依据。 2. 列出子系统的的元器件种类及每类元器件的数量、元器件质量等级和设备应用环境类别。 3. 分别计算不同应用环境下的分系统失效率。 4. 估计整个电子模块的总失效率及等可靠性特征量。 在设计样件阶段，则必须采用元器件应力分析预计法。该方法提供的基础数据包括各类元器件的工作失效率预计模型。获取元器件BOM，包括元器件名称、型号规格、数量、性能额定值及有关的设计、工艺、结构参数和工作应力数据等。分析BOM中各元器件的应用方式、工作环境温度及其它环境应用、负荷电应力比等工作应力数据，汇集成应力系数计算公式。 电子元器件可靠性分析的重要概念包括： 1. 可靠度函数R(t)：描述电子设备在某个时间点上的可靠性。 2. 失效度函数F(t)：描述电子设备在某个时间点上的失效概率。 3. 平均故障间隔时间MTTF：是指某个元件预计的可运作平均时间。 4. 失效率：是工作到某时刻尚未失效的产品，在该时刻后单位时间内发生失效的概率。 电子元器件的可靠性分析需要考虑非工作状态下的可靠性。在非工作状态下，电子设备的可靠性将受到影响。为此，需要使用《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》，十六大类电子元器件的非工作失效率预计模型、基本失效率模型及模型中的各参数值。 电子元件可靠性分析是一个复杂的过程，需要考虑多种因素和参数。只有通过对电子元件的可靠性进行详细的分析和估算，才能确保电子设备的长期稳定运行。