1 前言 集成电路测试机的种类,若依照其测试功能一般可区分为Logic测试机，Memory测试机及Mixed-signal测试机三大类。其中Logic测试机应用于一般消费性IC，如Voice，MCU IC等测试使用，Memory测试机应用于DRAM，Flash，SRAM等IC测试使用，而Mixed-signed测试机，则应用于Mixed-Signal IC测试，如Vedio，SoC IC等测试使用。 虽然不同种类的IC测试机使用于不同类型的IC测试使用，但其最基本的测试功能及原理实际上差异性并不大，只是不同类型的测试机多了某些特别的测试功能罢了，其中以Logic测试机之测试功能最为基本
