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文库首页开发技术其它Structural properties of In-doped ZnO thin films analyzed by x-ray diffraction at grazing incidence and θ-2θ geometry

Structural properties of In-doped ZnO thin films analyzed by x-r...

需积分: 3 0 下载量 149 浏览量 2020-02-04 19:58:11 上传评论收藏 427KB PDF 举报

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掠射和θ-2θ方式X射线衍射分析In掺杂ZnO薄膜结构特性，兰伟，，采用溶胶凝胶法,结合旋转涂敷技术在石英衬底上制备了In掺杂ZnO薄膜.薄膜的结构特性使用掠角入射X射线衍射(GI-XRD)和常规X射线衍射共同�