单端口存储器/字存储器/多端口存储器及存储器组的测试技术

集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器 ,字存储器 ,多端口存储器及存储器组的测试。测试算法和测试策略要在测试时间 ,故障覆盖率 ,面积开支之间进行折衷。