基础电子中的测试测量也推“Turn-Key”模式?整体方案才是王道?
面向未来的模块化体系结构如何设计? 早在30多年前,是德就开始开发VXI架构的模块化产品,但当时主要针对军工航天等高端领域。随着测试领域对更多高密度模块化产品的需求加大,是德便开始强化在模块化产品的投入力度。 Mario Narduzzi表示,是德科技模块化产品采用PXI和AXIe架构,致力于提供专业且出众的仪器功能。可以满足工程师提升测试速度的需求,包括仪器模块之间的数据传输与同步以及测量速度。开放式体系结构结合最新的PCI技术,能够显著提升测试系统配置的灵活性和数据传输速率。此外,PXI和AXIe模块化仪器采用与台式设备完全一致的测量技术,具有优秀的无线、射频、微波和高速数字性 在电子测试测量领域,"Turn-Key"模式是指提供完整的、预配置的测试解决方案,而不仅仅是单独的硬件或软件。这种模式旨在简化用户的工作流程,使他们能够快速部署测试系统,无需花费大量时间进行系统集成和配置。然而,随着技术的发展和市场需求的变化,模块化测试系统正成为一种趋势,尤其是对于基础电子测试来说。 是德科技,作为一个在测试测量领域有深厚底蕴的公司,早在30多年前就涉足模块化产品的开发,特别是VXI架构的产品,主要用于军事和航空航天等高端领域。随着市场需求的演变,是德科技逐渐加大在模块化产品上的投入,以满足测试领域对高密度、高性能仪器的需求。 是德科技的模块化产品采用了PXI和AXIe架构,这两种架构都是基于开放标准,结合了最新的PCI技术,从而提高了测试系统的灵活性和数据传输速度。这种模块化设计的一个关键优势在于,它们可以提供与台式仪器相媲美的测量精度,覆盖广泛的测试范围,如无线通信、射频、微波和高速数字测试。 例如,是德科技推出的PXIe多端口矢量网络分析仪M9485A,专为无线元器件的大批量生产设计,其多端口体系结构显著提升了测量速度,有助于提高效率和产能。8位高速数字化仪M9709A则为多通道数据采集提供了高通道密度解决方案,适用于各种科学实验。VXT PXIe矢量收发信机则集成了信号生成和分析功能,适用于功率放大器和前端模块的测试。而M8196A波形发生器则为高速通信应用,如100Gb/s和400Gb/s以太网测试,提供了高带宽、高分辨率的信号生成能力。 在模块化产品的设计理念上,是德科技强调四个核心点:小型化以节省空间,高吞吐率以提升数据处理能力,灵活性和可扩展性以适应不同测试需求,以及持续的创新研发以保持技术领先。这些设计理念确保了是德科技的模块化产品能够在满足多样化测试需求的同时,提供高效、便捷的测试体验。 综合来看,虽然"Turn-Key"模式提供了全面的解决方案,但模块化测试系统的灵活性和可定制性使其在基础电子测试领域展现出强大的潜力。模块化测试系统不仅简化了系统构建,降低了维护成本,还允许工程师根据具体应用需求灵活选择和组合测试组件,从而实现更高效、更精确的测试。因此,整体方案和模块化相结合,成为了现代电子测试测量领域的“王道”。
- 粉丝: 5
- 资源: 986
- 我的内容管理 展开
- 我的资源 快来上传第一个资源
- 我的收益 登录查看自己的收益
- 我的积分 登录查看自己的积分
- 我的C币 登录后查看C币余额
- 我的收藏
- 我的下载
- 下载帮助