手机电磁兼容问题主要涉及到手机在电磁干扰环境中的正常工作能力，其测试主要集中在以下几个方面：
1. 静电放电抗扰度试验
静电放电抗扰度试验是模拟人体或其他物体对手机进行静电放电，考察其抵抗静电干扰的能力。在测试过程中，常见问题包括：
- 手机通话中断；
- 静电放电导致部分功能失效，但通常这些失效功能在静电放电过程结束后或手机重启后可以恢复；
- 手机自动关机或重新启动；
- 静电放电导致手机失效或损坏。
具体原因可能是静电放电对手机内部电路影响、结构设计不合理、器件热失效或绝缘击穿、软件故障等。针对这些问题，建议在设计阶段选择高静电敏感度等级的器件，采取器件隔离、减少回路面积、合理布局电源和地线等措施来改善静电抗扰度。
2. 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
电快速瞬变脉冲群抗扰度试验是测试手机在遭遇由电感性负载开关产生的瞬态骚扰时的性能。脉冲群能量虽小，但频谱宽，可能对手机的可靠性产生影响。问题主要表现为误动作，例如软件故障、按键失效等。为解决这些问题，可以使用介质隔离、加强接地、使用保护器件等措施。
3. 辐射骚扰及传导骚扰性能测试
辐射骚扰测试是检测手机发射的电磁波是否超出规定范围，而传导骚扰测试是检测手机通过电源线或信号线等导体对外发射的电磁干扰是否合格。这两种测试能确保手机在使用时不对外产生或受到过多的电磁干扰。
在设计和测试手机电磁兼容性时，应考虑以下几点：
- 器件选择：选用具有高静电放电敏感度的器件，并将其隔离于静电源。
- 布局设计：优化电路板布线设计，包括缩短走线长度、电源与地线靠近布局、使用完整的地平面、保证信号线靠近地线。
- 软件设计：增加逻辑判断，正确处理告警信息，避免静电干扰信号被误处理。
- 硬件防护：使用保护器件（例如TVS管，ESD防护器件）保护接口电路和关键芯片引脚。
- 屏蔽措施：对敏感元器件进行屏蔽，并加强屏蔽效果和接地。
- 多次试验：对多台样机进行测试，分析共性问题，确认失效原因，并制订针对性的解决方案。
改善手机电磁兼容性能的方法很多，但关键在于综合考虑设计、材料选择、器件保护和软件处理等多方面因素，以确保手机在各种复杂的电磁环境中都能保持良好的工作状态。随着技术的发展，相关测试方法和标准也在不断更新，因此厂商必须持续关注电磁兼容测试领域的新动态，确保其产品符合最新的要求。
