<p>从特征抽取的角度研究提高入侵检测性能问题, 提出应用核偏最小二乘(KPL S) 进行入侵特征抽取和检测<br> 的方法. 其优点在于KPL S 能非线性地抽取输入特征的多个正交分量, 并保持与输出类别的相关性, 可同时完成入侵<br> 特征抽取和判别. 将该方法应用于基于L inux 主机的入侵检测实验, 取得了比SVM 和KPCR 等方法更好的效果.</p>
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