一类微分系统广义第二谱的带权估计 (2012年)

考虑一类微分系统广义第二谱的带权枯计,利用算子的谱理论、矩阵运算、分部积分、广义Rayleigh定理和Schwartz不等式等方法,获得了用第一谱来枯计第二谱上界的不等式,其枯计系数与区间的度量无关,其结果在徽分方程的谱枯计研究中起着重要的作用。