【基于分布式游标法的2.5DIC传输线测试】是一项针对现代集成电路（IC）测试技术的研究，尤其关注2.5维度（2.5D）集成电路中的传输线测试。2.5D IC技术是半导体集成的一种形式，它通过硅通孔（Through-Silicon Via, TSV）和重分布层（ Redistribution Layer, RDL）将多个芯片堆叠在一起，以提高性能和互连密度。在这样的复杂结构中，传输线的质量和可靠性至关重要，因为它们直接影响到整个系统的信号完整性和功耗。
传统的测试方法在应对2.5D IC的传输线测试时面临诸多挑战，如适用性不强、面积开销过大以及测试分辨率不稳定。针对这些问题，研究者提出了基于分布式游标法的新型测试策略。游标法是一种利用精密延迟线来测量微小时间差的技术，它可以提供高分辨率的延迟测量。
在新方法中，研究人员首先根据传输线的数量和分布选择两种游标结构：普通游标和环形游标。这两种结构能够灵活适应不同数量和布局的传输线。接着，将游标延迟线的所有延时单元平均分配给每条传输线，这样所有传输线都能共享同一个延迟线资源，有效地减少了面积开销。通过数字化编码输出传输线的延时，从而实现高精度的测试。
实验结果显示，与传统方法相比，分布式游标法在考虑测试时间和面积开销的同时，显著提高了测试的实用性。使用这种分布式测试方法，面积开销分别降低了52.6%和23.7%，这表明该方法在节省空间资源方面具有显著优势。此外，当相邻传输线之间的距离变化时，测试分辨率的稳定性提高了70%，这增强了测试的鲁棒性，即使在制造过程中的微小变化下也能保证测试的准确性。
这项工作对2.5D IC的测试领域有着重要的贡献，它为集成电路设计者提供了更有效、更可靠的测试方案，有助于解决2.5D IC集成带来的挑战，并推动了集成电路测试技术的发展。未来的研究可能会进一步优化游标结构，提高测试速度，降低功耗，同时保持高分辨率和稳定性，以满足不断增长的高性能计算和通信系统的需求。
