### IEEE 1149.7标准
IEEE 1149.7标准是一种边界扫描测试规范，简称CJTAG标准，它是基于JTAG标准基础上提出的。由于JTAG技术本身的灵活高效特性，可以用来进行边界扫描测试，并且扩展了指令集和相关逻辑，使其能够用于调试目的。IEEE 1149.7标准的提出，是为了应对集成电路（IC）工艺和EDA技术进步带来的测试和调试需求和挑战。
### 多TAPC结构设计与仿真
基于IEEE 1149.7标准，研究者颜学龙、何正亮、陈寿宏利用Quartus II开发平台和Verilog HDL语言设计了多TAPC结构，并使用Modelsim仿真工具进行了验证。仿真结果显示多TAPC结构能够有效对多TAPC芯片进行测试和调试。
### JTAG测试逻辑结构
JTAG测试逻辑结构主要包括四个部分：测试访问端口（TAP）、测试访问端口控制器（TAPC）、指令寄存器以及译码器和测试数据寄存器组。TAP是四个必选信号，包括TCK、TMS、TDI和TDO，而TRST是可选信号。这些信号使得外部系统工具能够通过TAP来控制芯片内部测试单元的工作。
### 测试访问端口控制器（TAPC）
TAPC是一个有限状态机，包含16个状态，状态转换由在TCK上升沿采样的TMS信号来控制。TAPC的设计和实现对于芯片的测试和调试至关重要。
### 多TAPC结构的重要性
随着集成电路的发展，传统的测试方案已不能满足现代IC的需求。因此，多TAPC结构在支持片上多TAPC的测试和调试中变得尤为重要。CJTAG标准的提出使得片上多TAPC的设计和实现成为可能，这对于片上系统（SOC）的测试与调试具有重要意义。
### 仿真验证的必要性
仿真验证是硬件设计流程中的关键步骤，它可以在芯片制造前预测和验证电路的功能和性能。通过Modelsim仿真工具对多TAPC结构进行仿真，可以在物理芯片生产之前发现问题并进行修正，从而节约开发成本并缩短产品上市时间。
### 研究意义与应用前景
对基于IEEE 1149.7标准的多TAPC芯片测试和调试技术的研究，不仅对于学术界有重要的理论意义，对于工业界也有实际的应用价值。尤其是在复杂系统芯片的设计与制造领域，这项技术可以显著提高测试和调试的效率和质量。
### 结论
本文的研究展示了基于IEEE 1149.7标准的多TAPC结构设计和仿真的有效性，为后续的硬件开发和芯片测试提供了重要的理论基础和实践经验。随着相关技术的进一步成熟和应用，可以期待在未来，多TAPC技术将在集成电路测试和调试中扮演更加重要的角色。
