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集成电路开发-故障及其诊断.pptx
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集成电路
电路开发
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故障及其诊断
一、缺陷、故障和失效
通常集成电路有
正常工作
和
非正常工作
两种状态,导致集成电路处于
非正
常状态
的因素包括:
(1)集成电路设计过程中的考虑不周全;
(2)集成电路制造过程中的一些物理、化学因素。
上述造成集成电路不符合技术条件而不能正常工作的各种因素统称为集成
电路存在
缺陷
。
集成电路的缺陷将导致其功能发生变化,称为
故障
。
故障可能会导致集成电路失效,也有可能不失效;若故障导致集成电路无
法实现其特定规范要求的功能,称为集成电路
失效
。
故障诊断
可以通过集成电路测试来确定其故障,因此集成电路测试有时也称为
故障
诊断;
故障诊断分成
故障检测
和
故障定位
两部分:
故障检测
主要是用来检验电路是否实现了预定的功能,是否发生了故障;
故障定位
是在故障检测基础上进一步确定发生了何种故障。
故障检测
集成电路故障的检测方法有:
•
目测法
•
感觉法
•
电压检测法
•
电阻检测法
•
电流检测法
•
信号注入法
•
代换法
•
加热法
•
冷却法
•
升压法
•
降压法
故障检测
(1)目测法:
目测法就是通过眼睛观察集成电路外表是否与正常的不一样,从而判断集
成电路是否损坏,其主要检修功底就是要看哪些外表是损坏的。
正常的集成电路外表是字迹清晰、物质无损、表面光滑、引脚无锈等,损
坏的集成电路外表是表面开裂、有裂纹或划痕,表面有小孔。缺角、缺块等。
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