根据给定文件的信息，我们可以将主要内容分为以下几个部分：测试程序与数据、TTL测试程序与数据、TREE测试程序与数据、MEMORY测试程序与数据、I2C测试数据与程序、P2C测试数据与程序等。
### B-5 On Power 测试资料
#### B-5-1 测试程序与测试数据
##### B-5-1-1 测试程序结构
数字集成电路（IC）的测试程序通常由数字IC的测试程序数据库构成。这一数据库包含了所有必要的测试信息，以便能够执行特定的测试动作并收集相应的测试结果。这些测试程序是经过精心设计来满足特定功能或性能需求的。
##### B-5-1-2 自动测试程序生成器（ATPG）的角色
自动测试程序生成器是一种软件工具，用于自动化地生成测试序列，旨在检测电路中的潜在故障。ATPG系统通常包括故障模型、算法以及生成策略等核心组成部分，其目的是为了确保测试覆盖率和有效性。
##### B-5-1-3 测试数据分类
测试数据可以根据不同的标准进行分类。例如：
- **按功能分类**：如逻辑测试数据、时序测试数据等。
- **按应用领域分类**：如内存测试数据、接口测试数据等。
- **按复杂度分类**：如简单测试数据、复杂测试数据等。
##### B-5-1-4 分析报告分类
测试完成后，会生成各种类型的分析报告，帮助工程师了解测试结果并做出决策。这些报告可能包括但不限于：
- **测试概览**：提供测试的基本信息，如测试时间、测试类型等。
- **测试结果**：列出测试的具体结果，如通过、失败等。
- **故障分析**：针对未通过的测试项，分析其可能的原因及建议的解决方案。
#### B-5-2 TTL 测试程序与测试数据
##### B-5-2-1 TTL 测试程序结构
TTL测试程序主要关注于TTL（晶体管-晶体管逻辑）器件的测试。这类程序通常遵循一定的结构，以便有效地执行测试任务。例如，它可能包含预置步骤、激励信号生成、响应采集以及结果评估等关键环节。
##### B-5-2-2 TTL 文件格式
TTL测试程序采用特定的文件格式存储测试信息。这种格式需要定义清楚，以便不同工具之间可以共享数据。常见的TTL文件格式可能包括：
- **头信息**：描述文件版本、创建日期等基本信息。
- **测试指令**：具体说明每一步测试操作，如施加电压、读取电流等。
- **测试结果**：记录实际测试过程中获取的数据。
##### B-5-2-3 测试动作
TTL测试程序涉及一系列具体的测试动作，这些动作是根据被测器件的功能和特性定制的。例如：
- **静态测试**：检查器件在静态条件下的行为。
- **动态测试**：模拟工作状态，观察器件在动态过程中的表现。
##### B-5-2-4 TTL 测试的 ATPG 低阶动作
对于TTL测试而言，ATPG系统的低阶动作通常包括以下方面：
- **故障建模**：定义哪些情况被认为是故障。
- **测试矢量生成**：生成能够有效检测故障的测试序列。
- **结果验证**：比较实际输出与预期结果，判断测试是否成功。
#### B-5-3 TREE 测试程序与测试数据
##### B-5-3-1 TREE 测试程序结构
TREE测试程序主要针对更复杂的数字电路或系统级芯片（SoC）。其结构可能包括多个层级，以适应复杂的设计架构。例如，它可能包括：
- **模块级测试**：针对单个功能模块的测试。
- **系统级测试**：考虑整个系统的交互和协同工作。
##### B-5-3-2 TREE 档案格式 – IC 基本资料语法
TREE测试程序使用的文件格式通常包含了IC的基本信息。这些信息对于理解和执行测试至关重要。例如，它可能包括：
- **器件标识**：用于唯一识别每个IC。
- **引脚配置**：描述IC各引脚的功能。
- **工作模式**：定义IC支持的操作模式。
##### B-5-3-3 TREE 档案格式 – Chain 资料语法
TREE测试程序还可能涉及到链式（chain）结构的测试，即多个器件串联在一起进行测试。这种情况下，文件格式需要支持：
- **链路信息**：描述链路中各器件之间的连接方式。
- **序列控制**：指定测试序列如何在链路上进行传播。
##### B-5-3-4 测试动作
TREE测试程序涵盖的动作更为广泛，可能包括：
- **初始化**：设置测试环境。
- **激励信号生成**：施加特定的输入信号。
- **响应捕获**：读取输出信号，并进行分析。
##### B-5-3-5 TREE 测试的 ATPG 低阶动作
TREE测试中ATPG的低阶动作可能包括：
- **故障注入**：人为引入故障，检验测试系统的有效性。
- **路径分析**：分析电路内部信号传输路径。
- **反馈机制**：根据测试结果调整后续测试策略。
以上是根据提供的文档标题、描述及部分内容所概括的关键知识点。这些知识点覆盖了数字IC测试的基本流程、方法及工具，对于理解现代电子产品的质量控制具有重要意义。
