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7.1 XPS
7.1 XPS
的
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基
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本
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原
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理
理
XPS是由瑞典Uppsala大学的K. Siegbahn及其同事历经近20年的潜心研究于60
年代中期研制开发出的一种新型表面分析仪器和方法。鉴于K. Siegbahn教授对
发展XPS领域做出的重大贡献,他被授予1981年诺贝尔物理学奖。
XPS现象基于爱因斯坦于1905年揭示的光电效应,爱因斯坦由于这方面的工作被
授予1921年诺贝尔物理学奖;
X射线是由德国物理学家伦琴(Wilhelm Conrad Röntgen,l845-1923)于
1895年发现的,他由此获得了1901年首届诺贝尔物理学奖。
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