《半导体测试概论》这本书由白安鹏汇编，涵盖了半导体测试的基础知识，包括电子学基本概念、半导体测试原理和方法、以及与集成电路（IC）相关的测试技术。半导体测试是确保半导体器件性能和质量的关键环节，它涉及到多个方面，如开路与短路测试、直流参数测试、功能参数测试、交流参数测试、电路特性分析、测试向量开发、测试程序的验证和文档归档等。
在电子学基础概念章节中，作者详细介绍了电压、电流和电阻的基本概念。电压，以伏特为单位，表示电荷在电路两点之间移动的能量差；电流，以安培为单位，代表单位时间内通过导体的电荷量；电阻，以欧姆为单位，衡量电流流动的阻力。欧姆定律指出，电压等于电流乘以电阻，即 V=IR，这为测量和计算提供了基础。
测试方法部分讨论了如何通过提供电压测量电流（VFIM）来间接计算电阻。例如，通过施加一个固定的2.5V电压，并使用电流计与被测物体串联，测量电流值后利用 R=V/I 来计算电阻。为了防止大电流导致损坏，通常需要设置电流限制措施。书中还提到了针对不同规格的IC，如何根据电阻允许的误差范围设定电流限制，以确保安全有效的测试。
此外，书中还包括了积体电路规格表的解读，这对于理解半导体器件的工作参数至关重要。直流参数测试关注静态工作点，如阈值电压、漏电流等；功能参数测试则侧重于器件在特定信号下的行为；交流参数测试涉及频率响应和瞬态特性；电路特性分析可能涵盖噪声、线性度和失真等方面。
测试向量开发和测试程序开发步骤是半导体测试的重要组成部分，它们决定了测试的效率和准确性。问题排除的方法和测试程序的验证及文档归档，确保了测试过程的完整性和可靠性。
扫描测试的原理和锁存效应的讨论，揭示了如何通过序列化的方式来测试大规模集成电路，从而减少测试时间并提高测试覆盖率。扫描测试利用内部的存储单元，一次测试一个逻辑门，然后通过扫描链移动到下一个门，以此类推。
综合以上内容，《半导体测试概论》是一本全面介绍半导体测试理论和技术的教材，适合电子工程和半导体行业的从业者以及学习者阅读，以深入理解半导体器件的测试方法和实践。
