少子寿命测试的基本原理和方法
处于热平衡状态下的半导体,在一定温度下,载流子的浓度是一定
的,称为平衡载流子浓度 , 如果对半导体施加外界作用 , 破坏了
热平衡的条件,称为非平衡状态。比平衡状态多出来的这部分载流
子称为非平衡载流子。非平衡载流子分为非平衡多数载流子和非平
衡少数载流子 , 对于 n 型半导体材料,多出来的电子就是非平衡
多数载流子 , 空穴则是非平衡少数载流子。对 p 型半导体材料则
相反 , 产生非平衡载流子的外界作用撤除以后,它们要逐渐衰减
以致消失,最后载流子浓度恢复到平衡时的值 , 非平衡少数载流
子的平均生存时间称为非平衡少数载流子的寿命 , 简称少子寿命
- 少子寿命的概念
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