在半导体行业中,测试数据的兼容性和标准化一直是一个重要的研究课题。随着技术的进步,越来越多的供应商开始提供网络化的测试系统以弥补传统测试系统的不足,而为了获取更多利润,这些系统需要能够处理来自不同设备的测试数据。为此,Teradyne公司开发了一种名为STDF(Standard Test Data Format)的简单、灵活的测试数据格式,以解决测试数据的兼容性问题。 STDF是一种二进制文件格式,它不能直接通过文本编辑器查看,因此了解其内部结构是分析和处理STDF文件的前提。每个STDF文件由若干个数据记录组成,每个记录包含头信息和数据本身。头信息部分包含了数据长度(占2个字节)、数据类型(占1个字节)和子类型(占1个字节)。数据类型和子类型是以一对成对的整数形式出现,它们共同决定了数据记录的含义。例如,文件属性数据(FAR)的代码是0和10,而主要结果数据(MRR)的代码则是1和20。 STDF文件中必须含有FAR(文件属性数据)、MIR(主要信息数据)、PCR(程序/配置数据)和MRR(主要结果数据)记录,而其他数据记录如ATRs(辅助测试记录)、RDRs(参考数据记录)和SDRs(次要数据记录)则是可选的。这些记录在文件中的顺序也是有规定的,例如FAR记录通常位于文件的开头,紧随其后可能是一个或多个ATR记录,然后是MIR记录,RDR和SDR记录则可以出现在MIR后面。 为了处理STDF文件中的信息,需要编写程序来读取和分析这些二进制数据。首先可以定义一个基类STDFRecord,其中包含一些基本的信息字段,然后为每种数据类型创建子类。例如,FARRecord类继承自STDFRecord,它包含了CPU类型(CPU_TYPE)和STDF版本(STDF_VER)信息。通过读取文件中的字节数据,可以移动文件指针并获取数据,如FARRecord类中所示,其中cpuType和stdfVer分别通过读取字节并应用位掩码(AND 0xff)来获得。 主程序处理STDF文件的大致流程如下: 1. 打开STDF文件,获取文件通道(FileChannel)。 2. 确定文件大小,然后对文件进行映射(map),使其可以在内存中读取。 3. 读取数据记录的头信息,包括记录长度、记录类型和子类型。 4. 根据读取到的头信息类型,创建对应的数据类实例并进行处理。 在处理STDF文件的过程中,还需要考虑数据记录的顺序和依赖关系,比如FAR记录必须位于文件的开头。此外,不同的数据类型可能有特定的数据字段和结构,因此需要实现对应的子类来处理不同数据类型的具体信息。 作者郑立钧是飞思卡尔半导体(中国)有限公司的系统分析师,他通过这篇文章分享了他对STDF文件分析的经验和部分源码,为他人提供了借鉴和参考。他的研究方向是计算机集成制造,这表明他在半导体行业有着深厚的技术背景和实践经验。通过阅读这篇文章,我们可以了解到如何利用Java语言来分析和处理STDF格式的二进制测试数据文件,进一步促进半导体测试数据的兼容性和标准化工作。
- mechelqin622716692019-11-05是个网页链接,没啥参考价值
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