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ASIC:专用集成电路(ApplicationSpecicIntegratedCircuit)
AMPP:Altera 宏功能模块和 IP 核开发伙伴组织(AlteraMegafunctionPartnersProg
ram)
BGA:球状矩阵排列(ballgridarray)
BSDL:边界扫描描述语言(Boundary-ScanDescriptionLanguage)
BST:边界扫描测试(Boundary-ScanTesting)
CAD:计算机辅助设计(Computer-AidedDesign)
CAE:计算机辅助工程(ComputerAidedEngineering)
CAM:计算机辅助制造(computer-aidedmanufacturing):
中央地址存储器(CentralAddressMemory)
CAT:计算机辅助测试(computer-aidedtest)
CPLD:复杂可编程逻辑器件(ComplexProgramableLogicDevice)
DFT:可测试设计(DesignForTest)
EAB:嵌入式阵列块(EmbeddedArrayBlock)
EDA:电子设计自动化(ElectronicDesignAutomation)
EDIF:电子设计交换格式(electronicdesigninterchangeformat)
EEPROM:电可擦除可编程只读存储器(ElectricallyErasableProgrammableRead-
OnlyMemory)
EPROM:可擦除可编程
ROM(ErasableProgrammableRead-OnlyMemory)
FPGA:现场可编程门阵列(FieldProgrammableGateArray)
EPLD:可擦除可编程逻辑器件(ErasableProgrammableLogicDevice)
FPSLIC:现场可编程系统级集成电路(FieldProgrammableSystemLevelIntegration
Circu)
FSM:有限状态机(FiniteStateMachine)
GAL:通用阵列逻辑(GenericArrayLogic)
HDL:硬件描述语言(hardwaredescriptionlanguage)
IEEE:电子电气工程师协会(InstituteofElectricalandElectronicEngineers)
IP:知识产权核(IntellectualProperty)
ISP:在系统可编程(InSystemProgrammability)
JTAG:联合测试行动组(JointTestActionGroup);在 EDA 领域又称“边界扫描测试
技术”,常用于可编程逻辑器件的测试下载
LAB:逻辑阵列块(LogicArrayBlock)
LE:逻辑单元(LogicElement)
LPM:参数可设置模块库(LibraryofParameterizedModules)
LUT:查找表(lookuptalbe)
OLMC:输出逻辑宏单元(OutputLogicMacroCell)
OTP:一次性可编程(OneTimeProgrammable)
PAL:可编程阵列逻辑:(ProgrammableArrayLogic)PCB:印刷电路板
PGA:可编程门阵列(ProgrammableGateArray)
PIA:可编程连线阵(ProgrammableInterconnectArray)
PLA:可编程逻辑阵列(ProgrammableLogicArray)
PLD:可编程逻辑电路(ProgramableLogicDevice)
PROM:可编程序只读存储器(ProgrammableRead-OnlyMemory)
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Zzzzzzzz77777
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