数字逻辑实验指导书(multisim).pdf
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2022-06-17
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实验一 集成电路的逻辑功能测试
一、实验目的
1、掌握 Multisim 软件的使用方法。
2、掌握集成逻辑门的逻辑功能。
3、掌握集成与非门的测试方法。
二、实验原理
TTL 集成电路的输入端和输出端均为三极管结构,所以称作三极管、三极管逻
辑电路 (Transistor -Transistor Logic 简称 TTL 电路。 54 系列的 TTL 电路和 74 系列
的 TTL 电路具 有完全相同的电路结构和电气性能参数。所不同的是 54 系列比 74
系列的工作温度范围更 宽, 电源允许的范围也更大。 74 系列的工作环境温度规定
为 0— 700C , 电源电压工作范围为 5V±5%V,而 54 系列工作环境温度规定为 -55—
±1250C ,电源电压工作范围为 5V±10%V。 54H 与 74H,54S 与 74S 以及 54LS 与
74LS 系列的区别也仅在于工作环境温度与电源电 压工作范围不同,就像 54 系列和
74 系列的区别那样。在不同系列的 TTL 器件中,只要器 件型号的后几位数码一样,
则它们的逻辑功能、外形尺寸、引脚排列就完全相同。
TTL 集成电路由于工作速度高、输出幅度较大、种类多、不易损坏而使用较
广,特别 对我们进行实验论证,选用 TTL 电路比较合适。因此,本实训教材大多采用
74LS(或 74 系 列 TTL 集成电路,它的电源电压工作范围为 5V±5%V,逻辑高电平为
“ 1”时≥ 2.4V ,低电 平为“ 0”时≤ 0.4V 。
它们的逻辑表达式分别为:
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