【8086CPU电磁脉冲效应测试系统】
8086CPU电磁脉冲效应测试系统是专门设计用于研究微处理器在遭受高强度电磁脉冲（EMP）环境下的响应和潜在影响的测试平台。该系统由三个主要部分组成：测试系统主板、样品试验板和PC机。这种测试对于理解大规模集成电路（LSI）和超大规模集成电路（VLSI），如8086CPU，在遭受EMP冲击时的行为至关重要。
8086CPU是Intel公司在1978年推出的一款16位微处理器，具有超过29,000个晶体管，是LSI的典型代表。EMP效应可能导致电子设备和系统内部电路的干扰或损坏，尤其是对LSI和VLSI来说。国外对此已有深入研究，而国内在这方面相对较少，该测试系统的研制填补了这一领域的空白，为LSI和VLSI的EMP效应研究提供了基础。
测试系统主板是核心部分，包括时钟电路、存储器、译码、显示、异步串行接口电路以及与测试系统板接口。时钟电路由8284芯片产生，为系统提供时钟和复位信号。数据存储器由6264芯片构成，提供16k的数据空间。程序存储器由28C64组成，用于存储控制8086运行的系统程序。显示电路使用一个数码管，由74LS373驱动。异步串行接口电路由8251A芯片控制，允许与PC机进行通信。GAL20V8芯片完成系统的译码工作。
样品试验板上包含8086CPU，它控制整个测试系统的运行。通过实验端口选择开关和EMP模拟信号接口，可以模拟不同类型的EMP冲击，研究其对8086CPU的影响。测试结果可帮助研究人员了解EMP效应的一般规律，并为其他集成电路的EMP效应测试系统设计提供参考。
测试系统的成功研制不仅有助于探究集成电路在电磁脉冲环境下的行为，还为相关领域的研究和防护措施提供了技术支持。通过对8086CPU进行EMP效应实验，可以进一步分析集成电路上的电磁脉冲效应，并为更复杂电路的抗干扰能力评估提供基础。
