半导体激光准直仪是一种结合了半导体激光器和线阵CCD技术的精密测量工具,广泛应用于大型机械设备的直线度、平面度、平行度等几何精度测量。传统的激光准直仪通常采用氦氖激光器和四象限光电池,但半导体激光器和CCD因其优异性能逐渐成为主流。
半导体激光器,即激光二极管(Laser Diode, LD),具有结构简单、驱动电压低、响应速度快、体积小巧等优点。它们发出的激光经过光学系统调整后形成准直光束,用于测量目标的直线度误差。线阵CCD作为光电接收元件,能精确捕捉激光束的位置变化,将这些变化转化为电信号,通过数据采集和处理系统进行计算,从而评估被测物体的几何精度。
激光束的漂移是影响半导体激光准直仪测量精度的重要因素。这种漂移可能是由环境温度变化、空气扰动或激光器本身性能不稳定引起的。空气中的湍流会改变激光束的传播路径,导致测量误差。为了解决这个问题,研究者提出了双激光束合并补偿和平面镜反射方法。这种方法通过减少激光束在空气中的传播距离,降低空气扰动的影响,从而提高激光准直仪的精度。
激光准直仪的工作原理是:半导体激光器发出的光线照射到线阵CCD上,根据实际需求选择点光源、一字光源或十字光源。当激光器沿被测物体表面移动时,物体的直线度误差会导致激光束在CCD上的位置变化,CCD将这种变化转换成电信号,再由微处理器进行数据处理和结果显示。由于线阵CCD的高测量精度,整个系统的测量结果准确且便于数据输出。
激光束漂移的补偿方法包括使用双激光束合并,即两个激光束在空间中合并后传播,当一个激光束受到干扰时,另一个可以提供参考,减少漂移影响。同时,平面镜反射则可以改变光束的传播路径,使其在更稳定的环境中传播,进一步降低漂移。
半导体激光准直仪通过半导体激光器和线阵CCD的结合,实现了高效、精确的几何精度测量。对于激光束漂移的补偿研究,提高了仪器的测量稳定性和精度,使其在各种工程测量中得到广泛应用。这项技术的发展不仅简化了仪器的设计,也提升了测量的效率,为工业生产和科学研究提供了强大的技术支持。