单片机储存器p口测验

### 单片机储存器P口测验知识点详解 #### 实验背景与目的 本实验旨在帮助学习者深入了解数字系统设计的基本过程，并掌握在实验环境中使用Quartus II 7.2工具软件的方法。通过本实验，学习者将能够更好地理解和操作单片机的内部存储器以及并行接口(P口)的读写操作。 #### 实验一：并口、存储器实验 ##### 实验目的 1. **熟悉实验环境**：学习如何设置和配置实验所需的硬件环境及软件工具。 2. **理解内部存储器的读写方法**：掌握如何对单片机内部的存储器进行数据的读取与写入操作。 3. **理解并行口的读写方法**：学会如何通过单片机的并行接口(P口)进行数据的输入与输出。 ##### 实验内容解析 1. **将CPU内部50H单元的高4位低4位拆开,分别存入CPU内部60H,61H单元** - **实现步骤**： - 需要读取50H单元的数据。 - 然后，通过位操作指令，分离出高4位和低4位。 - 将分离后的高位和低位数据分别写入60H和61H单元。 - **关键技术点**： - **位操作**：包括移位指令和逻辑运算指令等，用于处理二进制位的操作。 - **数据存储**：掌握如何在单片机内存中存储数据。 - **地址定位**：准确地定位到指定的内存地址，进行数据的读写操作。 2. **P1口P1.0—P1.7接八个LED灯L0—L7，编写程序，使P1口上的八个LED灯以花样灯方式或计数方式显示** - **实现步骤**： - 将P1口的每个引脚连接到一个LED灯上。 - 编写程序控制LED灯的亮灭。 - 通过循环或定时器实现LED灯的不同显示模式。 - **关键技术点**： - **I/O口控制**：掌握如何通过编程控制单片机的I/O口输出状态。 - **定时器应用**：利用单片机内置的定时器实现时间控制功能。 - **循环结构**：使用循环结构来实现LED灯的周期性变化。 3. **P1.0接K0，P1.7接K7，P1.1—P1.6接LED灯L1—L6。编写程序,当K0,K7,都为高或都为低时,LED灯L1—L6不亮,当K0为高时,LED灯L1—L3闪亮,当K7为高时LED灯L4—L6闪亮** - **实现步骤**： - 使用P1.0和P1.7作为输入端，接收外部按键信号。 - 根据按键的状态，决定LED灯的亮灭。 - 通过条件判断语句控制LED灯的状态。 - **关键技术点**： - **输入检测**：掌握如何通过编程读取外部输入信号。 - **条件判断**：根据不同的输入状态执行不同的程序分支。 - **状态切换**：通过编程控制LED灯的状态变化。 4. **将单片机40H—4FH中的数写到RAM6264中的8000H—800F中；将RAM6264中的8000H—800F数写到单片机50H—5FH中** - **实现步骤**： - 读取单片机40H—4FH单元中的数据。 - 将这些数据写入外部RAM6264的8000H—800F地址中。 - 再次读取RAM6264中的8000H—800F数据，并将其写入单片机50H—5FH单元中。 - **关键技术点**： - **外部RAM访问**：学习如何访问外部扩展的RAM存储器。 - **数据传输**：掌握如何在单片机内部和外部存储器之间进行数据的读写操作。 - **地址映射**：理解不同存储空间之间的地址映射关系。 通过以上实验内容的学习和实践，不仅可以加深对单片机工作原理的理解，还能够提高实际操作技能，为后续更复杂的设计打下坚实的基础。