微电子实验室技术要求.doc
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2021-05-21
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二、技术、参数要求：
序号 仪器设备名称 技术参数要求 数量
1
万能单片机实验
开发系统
（1）软件开发实验：清零程序，拆字程序，拼字程序，数据区
传送子程序，数据排序实验，查找相同数据个数，无符号双字
节快速乘法子程序，多分支程序，脉冲计数实验，电脑时钟实
验；
（2）硬件开发实验：P1 口亮灯实验，P1 口转弯灯实验，P3.3
口输入，P1 口输出实验，工业顺序控制实验，8255 A、B、C
口输出方波实验，8255 PA 口控制 PB 口，8255 控制交通灯，
简单 I/O 扩展实验，A/D0809 转换实验，D/A0832 转换实
验，8279 键盘显示实验，通用打印机实验；微型打印机打印字
符、曲线、汉字实验；I
2
C 储存卡读写实验，继电器控制实验，
步进电机控制，8253 方波实验，小直流电机调速实验（霍尔传
感器），16*16 LED 点阵显示实验，128*64（1602）LCD
液晶显示实验，8250 可编程异步通讯接口实验（自发自
收），8251 可编程通讯接口实验（与 PC 机），单片机
RS232/485 串行发送实验（双机通讯），单片机 RS232/485
串行接收实验（双机通讯），DS18B20 单总线温度测量实验，
压力实验，PWM 实验，射极跟随器。
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2
集成仪器
（1）集成三位半数字万用表，四通道示波器，2-4 通道信号
源，数据采集卡，频谱图，幅频特性测试仪，多通道逻辑分析
仪，多通道脉冲信号发生器；
（2）对外供电：可调电源：±3V 至 ±15V；
（3）固定电源： ±5V，3.3V，PI2AII-USB 转 SPI 等；
（4）静态输入/输出：虚拟数码管、LED 和推动开关，可以支
持完成数字电路、模拟电路、集成电路设计开发。
5
3
智能小车
可实现自动巡线行驶，自动碰撞躲避，实现防止跌落功能，可
通过 arduino nano 单片机进行控制开发，学生可以使用
arduino 控制器完成基本功能的调试和开发，进一步使用
STM32 控制器更加深入理解单片机开发的更底层的原理。
15
4
现场可编程门阵
列 FPGA
外围设备：
（1）具有串行配置器 EPCS16。
（2）具有 50M 晶振。
（3）板载 USB Blaster,一根 USB 线缆完成供电和下载。
（4）板载输出模块有 6 位数码管，16 路 LED，一路无源蜂鸣
器。
（5）板载输入模块有 8 路按键，8 路拨动开关。
30
5
高频光电导少子
寿命测试仪
测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经
热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。
仪器参数：τ:10～6000μs，ρ＞3Ω·cm，配数字示波器;用
于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平
面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。
寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在
的情况，是单晶质的重要检测项目。
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